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、MM測試儀(yí)
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    HBM 、MM測試儀(yí)本(běn)產(chǎn)品可進行器(qì)件級ESD測試 ,包括(kuò)CDM測試 。可應用於(yú)器(qì)件開發評(píng)價、器(qì)件認證和進廠測試、評(píng)價 、使(shǐ)用環境評(píng)價等(děng)各種試驗用途 。

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上(shàng)海途哲電子設備有限公司 ,是一家提供測試與測量綜合(hé)解決方案的專業的測試儀(yí)器(qì)綜合(hé)供應商。專注於(yú)為用戶(hù)提供專業和高性價比的儀(yí)器(qì)儀(yí)表的購買 、維(wéi)護、租賃、售後(hòu)技術支(zhī)持等(děng)各項服務 ;並且(qiě)致力於(yú)為客戶(hù)提供高附加價值的系統集(jí)成、各種解決方案。公司擁有自主的技術咨詢 、服務及(jí)第三方檢測能力,目前(qián)銷售及(jí)提供服務的品牌如羅德與施(shī)瓦(wǎ)茨、是德 、蔡司 、ADVANTEST、日立、泰克 、力科、橫(héng)河、TOYO、RIKEN、PHOTRON 、NOISEKEN、TET、TESEQ 、EMCPARTNER ,SCHLODER,INFREC等(děng) ;...
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2025年(nián)8月25日 LONGPEAK靜電放電發生(shēng)器(qì)操作常見誤區及(jí)避免方法

LONGPEAK靜電放電發生(shēng)器(qì)是模擬靜電放電場景、考核電子電氣產(chǎn)品抗靜電性能的關鍵設備,廣(guǎng)泛用於(yú)家電、汽(qì)車電子、通信設備等(děng)領域的EMC測試。操作中若存在誤區,易導致測試數據失真(zhēn) 、設備損壞,甚至(zhì)引(yǐn)發安全隱患。以下梳理4類常見誤區及(jí)對應避免方法。​一 、誤區一:忽視放電槍校准 ,直接開展測試​部分用戶(hù)認為“新設備無需校准”,或長(zhǎng)期不(bù)校准放電槍 ,直接用其進行測試 。LONGPEAK靜電放電發生(shēng)器(qì)的放電槍電極(jí)易因磨損、污染導致放電電流偏差,若不(bù)校准,可能將合(hé)格產(chǎn)品誤判為不(bù)合(hé)格 ,或遺漏真(zhēn)實抗...

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2025年(nián)7月28日 掃描電鏡測試數據的定量分析及(jí)其在科研中的意義

掃描電鏡測試數據蘊含著(zhe)豐富的微觀(guān)結構信息,對其進行定量分析在科研領域有著(zhe)至(zhì)關重(zhòng)要的意義 。在定量分析方面,首先是對圖像中特徵尺(chǐ)寸的測量。通過(guò)專業的圖像分析軟件 ,可以精准地量取材(cái)料微觀(guān)結構的粒徑大小(xiǎo)、孔隙直徑等(děng)關鍵尺(chǐ)寸參(cān)數 。例如在納米材(cái)料研究中 ,準確知曉納米顆粒的直徑分布範圍,能為評(píng)估其性能及(jí)進一步改進制(zhì)備工(gōng)藝(yì)提供依據 。同時,對於(yú)晶界、相界等(děng)界面的距離測量也很重(zhòng)要,有助於(yú)了(le)解材(cái)料的結晶特性以及(jí)不(bù)同相之間的相互(hù)作用情況(kuàng) 。另外 ,對元素成分的定量分析也是重(zhòng)要一環 。結合(hé)能譜儀(yí)等(děng)附件所獲取...

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2025年(nián)12月22日 聚焦離子束電鏡測試常見加工(gōng)缺陷與優化策略探討​

聚焦離子束電鏡測試將高能離子束用於(yú)材(cái)料微納加工(gōng)(刻蝕(shí) 、沈積、切割)與SEM成像結合(hé) ,可實現截(jié)面制(zhì)備、透射電鏡(TEM)薄片(piàn)加工(gōng) 、電路修(xiū)補與三維(wéi)重(zhòng)構。但在加工(gōng)過(guò)程中易出現多種缺陷 ,影響樣品質量與分析準確性,必須針對性優化。一 、常見加工(gōng)缺陷​溝槽側壁(bì)傾斜與波紋​離子束入射角與束流分布不(bù)均(jūn),或樣品表面不(bù)平整,會(huì)導致刻蝕(shí)溝槽側壁(bì)呈斜坡或出現週期性波紋,影響截(jié)面平直度 。表面損傷層與再沈積​高能離子轟擊產(chǎn)生(shēng)晶格損傷、非晶化或雜質注入;刻蝕(shí)產(chǎn)生(shēng)的碎屑可能再沈積在側壁(bì)或底部,遮蔽結構細節(jiē)。熱(rè)...

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2025年(nián)11月25日 SEM掃描電鏡檢測入門指(zhǐ)南 :從樣品制(zhì)備到圖像解讀

SEM掃描電鏡檢測因其高分辨率 、大景深和直觀(guān)的微觀(guān)形貌呈現能力,成為材(cái)料、生(shēng)物、地質等(děng)領域關鍵的分析工(gōng)具。但對於(yú)初學(xué)者而(ér)言 ,從送樣到獲取可靠圖像 ,每一步都(dōu)需嚴謹對待 。本(běn)文簡(jiǎn)要梳理SEM檢測全流程關鍵要點 。第一步:樣品制(zhì)備——成敗在此一舉。導電性良好的金屬樣品可直接觀(guān)察 ;但非導電樣品(如陶瓷、塑料 、生(shēng)物組(zǔ)織)必須進行表面導電處理,常用方法包括(kuò)噴金(Au/Pd)、噴碳或使(shǐ)用低真(zhēn)空模式。若忽略此步 ,將出現嚴重(zhòng)“荷電效應”——圖像漂移(yí) 、條(tiáo)紋或亮度異常。此外,樣品需牢固固定於(yú)樣品台 ,避...

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2025年(nián)10月24日 掌握4點原則入手輕鬆選擇(zé)ZEISS場發射掃描電鏡

ZEISS場發射掃描電鏡是材(cái)料科學(xué)、納米技術、半導體分析等(děng)領域觀(guān)測微納結構(如原子排列、納米顆粒形貌)的核心(xīn)工(gōng)具 。ZEISS場發射掃描電鏡以高分辨率、高穩定性和智能操作著稱(chēng)。但面對複雜的技術參(cān)數 ,選購時掌握以下4點原則,可輕鬆匹配需求。一 、分辨率 :分辨率是衡量電鏡成像清晰度的關鍵參(cān)數 ,直接影響能否觀(guān)察到納米級細節(jiē)(如單個原子的排列 、納米線的截(jié)面結構) 。ZEISS場發射電鏡的分辨率通常分為“點分辨率”(理論較小(xiǎo)可分辨兩點間距)和“實際成像分辨率”(實際樣品成像的清晰度) 。對於(yú)常...

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2025年(nián)9月22日 提升國產(chǎn)環境箱測量精度的幾(jǐ)大操作秘籍

國產(chǎn)環境箱是材(cái)料性能測試 、產(chǎn)品可靠性驗證的核心(xīn)設備,其測量精度(如溫度偏差≤±0.5℃ 、濕度偏差≤±2%RH)直接影響測試數據的可靠性 。對於(yú)專業用戶(hù)而(ér)言,掌握幾(jǐ)大操作秘籍,能有效提升環境箱的測量精度 ,讓設備發揮更大價值 。一、校准先行:環境箱的傳感器(qì)(溫度、濕度 、壓力等(děng))會(huì)隨(suí)時間漂移(yí)或受環境影響產(chǎn)生(shēng)誤差 。專家建議每3-6個月使(shǐ)用標準計量設備(如鉑電阻溫度計、精密露點儀(yí))對箱內參(cān)數進行校准,校准點需覆蓋常用測試範圍(如溫度-40℃至(zhì)85℃ 、濕度30%R...

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2025年(nián)8月25日 LONGPEAK靜電放電發生(shēng)器(qì)操作常見誤區及(jí)避免方法

LONGPEAK靜電放電發生(shēng)器(qì)是模擬靜電放電場景、考核電子電氣產(chǎn)品抗靜電性能的關鍵設備 ,廣(guǎng)泛用於(yú)家電 、汽(qì)車電子 、通信設備等(děng)領域的EMC測試。操作中若存在誤區,易導致測試數據失真(zhēn) 、設備損壞,甚至(zhì)引(yǐn)發安全隱患 。以下梳理4類常見誤區及(jí)對應避免方法 。​一、誤區一:忽視放電槍校准 ,直接開展測試​部分用戶(hù)認為“新設備無需校准” ,或長(zhǎng)期不(bù)校准放電槍,直接用其進行測試。LONGPEAK靜電放電發生(shēng)器(qì)的放電槍電極(jí)易因磨損、污染導致放電電流偏差 ,若不(bù)校准,可能將合(hé)格產(chǎn)品誤判為不(bù)合(hé)格 ,或遺漏真(zhēn)實抗...

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2025年(nián)7月28日 掃描電鏡測試數據的定量分析及(jí)其在科研中的意義

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