LONGPEAK靜電放電發生(shēng)器(qì)是模擬靜電放電場景、考核電子電氣產(chǎn)品抗靜電性能的關鍵設備，廣(guǎng)泛用於(yú)家電、汽(qì)車電子、通信設備等(děng)領域的EMC測試。操作中若存在誤區，易導致測試數據失真(zhēn) 、設備損壞，甚至(zhì)引(yǐn)發安全隱患。以下梳理4類常見誤區及(jí)對應避免方法。​一 、誤區一：忽視放電槍校准 ，直接開展測試​部分用戶(hù)認為“新設備無需校准”，或長(zhǎng)期不(bù)校准放電槍 ，直接用其進行測試 。LONGPEAK靜電放電發生(shēng)器(qì)的放電槍電極(jí)易因磨損、污染導致放電電流偏差，若不(bù)校准，可能將合(hé)格產(chǎn)品誤判為不(bù)合(hé)格 ，或遺漏真(zhēn)實抗...

掃描電鏡測試數據蘊含著(zhe)豐富的微觀(guān)結構信息，對其進行定量分析在科研領域有著(zhe)至(zhì)關重(zhòng)要的意義 。在定量分析方面，首先是對圖像中特徵尺(chǐ)寸的測量。通過(guò)專業的圖像分析軟件 ，可以精准地量取材(cái)料微觀(guān)結構的粒徑大小(xiǎo)、孔隙直徑等(děng)關鍵尺(chǐ)寸參(cān)數 。例如在納米材(cái)料研究中 ，準確知曉納米顆粒的直徑分布範圍，能為評(píng)估其性能及(jí)進一步改進制(zhì)備工(gōng)藝(yì)提供依據 。同時，對於(yú)晶界、相界等(děng)界面的距離測量也很重(zhòng)要，有助於(yú)了(le)解材(cái)料的結晶特性以及(jí)不(bù)同相之間的相互(hù)作用情況(kuàng) 。另外 ，對元素成分的定量分析也是重(zhòng)要一環 。結合(hé)能譜儀(yí)等(děng)附件所獲取...

聚焦離子束電鏡測試將高能離子束用於(yú)材(cái)料微納加工(gōng)(刻蝕(shí) 、沈積 、切割)與SEM成像結合(hé)，可實現截(jié)面制(zhì)備 、透射電鏡(TEM)薄片(piàn)加工(gōng) 、電路修(xiū)補與三維(wéi)重(zhòng)構 。但在加工(gōng)過(guò)程中易出現多種缺陷 ，影響樣品質量與分析準確性 ，必須針對性優化 。一、常見加工(gōng)缺陷​溝槽側壁(bì)傾斜與波紋​離子束入射角與束流分布不(bù)均(jūn)，或樣品表面不(bù)平整，會(huì)導致刻蝕(shí)溝槽側壁(bì)呈斜坡或出現週期性波紋 ，影響截(jié)面平直度。表面損傷層與再沈積​高能離子轟擊產(chǎn)生(shēng)晶格損傷 、非晶化或雜質注入 ；刻蝕(shí)產(chǎn)生(shēng)的碎屑可能再沈積在側壁(bì)或底部 ，遮蔽結構細節(jiē)。熱(rè)...