聚(jù)焦離子(zǐ)束電鏡測試將高能(néng)離子(zǐ)束用於材料微納加工(gōng)(刻蝕、沈積、切割)與(yǔ)SEM成(chéng)像結合，可實(shí)現截面制備 、透射電鏡(TEM)薄片(piàn)加工(gōng) 、電路修補與(yǔ)三維(wéi)重構 。但在(zài)加工(gōng)過程中易出現多種缺陷 ，影響(xiǎng)樣品質量與(yǔ)分析準確性(xìng)
，必須針對(duì)性(xìng)優化 。一、常(cháng)見(jiàn)加工(gōng)缺陷​溝槽側壁傾斜與(yǔ)波紋​離子(zǐ)束入射角與(yǔ)束流分布(bù)不均，或樣品表面不平(píng)整 ，會導(dǎo)致刻蝕溝槽側壁呈斜坡或出現週期性(xìng)波紋，影響(xiǎng)截面平(píng)直度 。表面損傷層與(yǔ)再沈積​高能(néng)離子(zǐ)轟擊(jī)產生晶格損傷、非晶化或雜質注(zhù)入 ；刻蝕產生的碎屑可能(néng)再沈積在(zài)側壁或底部 ，遮蔽結構細節(jiē) 。熱...

LONGPEAK靜電放(fàng)電發生器是模(mó)擬靜電放(fàng)電場(chǎng)景、考核電子(zǐ)電氣產品抗靜電性(xìng)能(néng)的關鍵設備 ，廣泛用於家電、汽車電子(zǐ) 、通信(xìn)設備等領域(yù)的EMC測試。操作(zuò)中若存在(zài)誤區，易導(dǎo)致測試數據失真(zhēn)、設備損壞 ，甚至引發安全(chéng)隱患 。以下梳理4類常(cháng)見(jiàn)誤區及對(duì)應(yīng)避(bì)免(miǎn)方法 。​一、誤區一：忽視放(fàng)電槍校准 ，直接開展測試​部分用戶認為“新設備無需校准” ，或長期不校准放(fàng)電槍 ，直接用其進行測試。LONGPEAK靜電放(fàng)電發生器的放(fàng)電槍電極易因(yīn)磨損 、污染導(dǎo)致放(fàng)電電流偏(piān)差，若不校准 ，可能(néng)將合格產品誤判為不合格，或遺漏真(zhēn)實(shí)抗...

掃描(miáo)電鏡測試數據蘊含著豐富的微觀結構信(xìn)息，對(duì)其進行定(dìng)量分析在(zài)科研領域(yù)有著至關重要的意義。在(zài)定(dìng)量分析方面 ，首先是對(duì)圖像中特(tè)徵(zhēng)尺(chǐ)寸的測量。通過專業的圖像分析軟件(jiàn) ，可以精准地量取材料微觀結構的粒徑大小 、孔隙直徑等關鍵尺(chǐ)寸參數。例如在(zài)納米(mǐ)材料研究中，準確知曉納米(mǐ)顆粒的直徑分布(bù)範圍，能(néng)為評估其性(xìng)能(néng)及進一步改進制備工(gōng)藝提供依據。同(tóng)時 ，對(duì)於晶界 、相界等界面的距離測量也很(hěn)重要 ，有助於瞭解材料的結晶特(tè)性(xìng)以及不同(tóng)相之間的相互作(zuò)用情況。另外(wài)，對(duì)元素成(chéng)分的定(dìng)量分析也是重要一環(huán)。結合能(néng)譜儀等附件(jiàn)所獲(huò)取...