產品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置
：首頁
產品中心EMC測試(shì)儀器東(dōng)京電(diàn)子TET日本半(bàn)導體HBM測試(shì)儀
產品簡(jiǎn)介(jiè)
日本半(bàn)導體HBM測試(shì)儀本產品可(kě)進行(xíng)器件級ESD測試(shì) ，包括CDM測試(shì) 。可(kě)應用於器件開發評價、器件認證(zhèng)和進廠測試(shì)、評價 、使用環境評價等各種試(shì)驗用途。
產品分類(lèi)
相關(guān)文(wén)章
| 品牌 | TET | 產地類(lèi)別 | 進口 |
|---|
日本半(bàn)導體HBM測試(shì)儀產品規格:
1200 C: D-CDM/F-CDM（）●1200 EL（ESD/閂鎖測試(shì)機台）●1200 ELC（ESD/閂鎖/CDM 測試(shì)機台）產品用途1200系列的4種功能：HBM、MM 、閂鎖和CDM在一(yī)個系統中 ，1350引(yǐn)腳對(duì)測試(shì)可(kě)用（使用專(zhuān)用DUT板在非電(diàn)源引(yǐn)腳和電(diàn)源引(yǐn)腳之間時(shí)） 。本產品可(kě)進行(xíng)器件級ESD測試(shì) ，包括CDM測試(shì) 。可(kě)應用於器件開發評價、器件認證(zhèng)和進廠測試(shì) 、評價、使用環境評價等各種試(shì)驗用途。
*1 MM 標準 400V 。可(kě)施(shī)加 2KV ，但在高電(diàn)壓狀(zhuàng)態(tài)下持續試(shì)驗會導致繼電(diàn)器劣化。
*2 需要示波器、電(diàn)流探頭、衰減器（20dB）。關(guān)於對(duì)應的產品，請另外商談 。
*3 CDM 波形保(bǎo)證(zhèng)範圍為(wéi)±2000V ，空氣放(fàng)電(diàn)時(shí)受到濕度 、接觸部(bù)的構造(zào)、污染等影響， 波形有(yǒu)可(kě)能會有(yǒu)很大變化。
*4 每個電(diàn)源都具有(yǒu)閉鎖檢測功能和電(diàn)源過壓測試(shì)功能 。
*5 測試(shì)範圍由 Vsupply 而定。
*6 需使用熱電(diàn)纜(lǎn)和外部(bù)測試(shì)夾具 。
*7 該(gāi)系統使用的組件包括水銀。請按照法律處理含有(yǒu)汞的組件。
公司郵箱： jfyp@tu-zhe.cn
服(fú)務(wù)熱線： 021-61656613
公司地址(zhǐ) ： 上海(hǎi)市浦東(dōng)新區金橋(qiáo)路(lù)939號207室
Copyright © 2025 上海(hǎi)途哲電(diàn)子設備有(yǒu)限公司 Al Rights Reserved
備案號：滬ICP備19022890號-2
關(guān)於我(wǒ)們
公司簡(jiǎn)介(jiè) 企(qǐ)業文(wén)化 榮譽資(zī)質 聯(lián)系我(wǒ)們快速通(tōng)道
產品中心 新聞中心 技術文(wén)章 在線留言推薦產品
HBM、MM測試(shì)儀 日本HBM測試(shì)儀 日本半(bàn)導體MM測試(shì)儀 日本半(bàn)導體HBM測試(shì)儀
上一(yī)個
：
返(fǎn)回列表