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產(chǎn)品中心(xīn)EMC測試儀器(qì)東京電子TET日本半導體(tǐ)MM測試儀
產(chǎn)品簡介
日本半導體(tǐ)MM測試儀本產(chǎn)品可(kě)進(jìn)行器(qì)件級(jí)ESD測試，包(bāo)括CDM測試。可(kě)應用於器(qì)件開發評價 、器(qì)件認證(zhèng)和進(jìn)廠測試、評價、使用環境評價等各(gè)種試驗用途。
產(chǎn)品分類
| 品牌 | TET | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|
日本半導體(tǐ)MM測試儀產(chǎn)品規(guī)格:
1200 C: D-CDM/F-CDM（）●1200 EL（ESD/閂鎖測試機台）●1200 ELC（ESD/閂鎖/CDM 測試機台）產(chǎn)品用途1200系列的4種功能 ：HBM、MM、閂鎖和CDM在一個系統中 ，1350引腳對(duì)測試可(kě)用（使用專用DUT板在非(fēi)電源(yuán)引腳和電源(yuán)引腳之間時） 。本產(chǎn)品可(kě)進(jìn)行器(qì)件級(jí)ESD測試 ，包(bāo)括CDM測試 。可(kě)應用於器(qì)件開發評價 、器(qì)件認證(zhèng)和進(jìn)廠測試、評價 、使用環境評價等各(gè)種試驗用途。
日本半導體(tǐ)MM測試儀產(chǎn)品詳情(qíng):
*1 MM 標準(zhǔn) 400V 。可(kě)施(shī)加(jiā) 2KV，但在高電壓(yā)狀態下持續試驗會導致繼電器(qì)劣化。
*2 需要示波器(qì)、電流探(tàn)頭 、衰減器(qì)（20dB）。關於對(duì)應的產(chǎn)品 ，請另外商談 。
*3 CDM 波形保(bǎo)證(zhèng)範圍為±2000V，空氣放電時受到濕(shī)度(dù) 、接觸部(bù)的構(gòu)造 、污染等影響 ， 波形有可(kě)能會有很大變化 。
*4 每個電源(yuán)都具有閉鎖檢(jiǎn)測功能和電源(yuán)過壓(yā)測試功能 。
*5 測試範圍由(yóu) Vsupply 而(ér)定 。
*6 需使用熱電纜和外部(bù)測試夾(jiá)具 。
*7 該系統使用的組件包(bāo)括水銀(yín) 。請按照法(fǎ)律處(chù)理(lǐ)含有汞的組件 。
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