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  • 聚焦離子束電鏡測試常(cháng)見加(jiā)工缺陷與優化策略探討​

    2025-12-22 聚焦離子束電鏡測試將高(gāo)能離子束用於材料(liào)微納加(jiā)工(刻(kè)蝕、沈積 、切割)與SEM成像結合 ,可(kě)實現截(jié)面制備 、透(tòu)射(shè)電鏡(TEM)薄片加(jiā)工 、電路修補與三維重(zhòng)構 。但在加(jiā)工過程中(zhōng)易出現多種缺陷,影(yǐng)響(xiǎng)樣品質量(liàng)與分(fèn)析準確性 ,必須針對(duì)性優化 。一、常(cháng)見加(jiā)工缺陷​溝槽側壁傾斜與波(bō)紋​離子束入射(shè)角與束流分(fèn)布(bù)不均,或(huò)樣品表面不平整,會導致刻(kè)蝕溝槽側壁呈斜坡或(huò)出現週期性波(bō)紋,影(yǐng)響(xiǎng)截(jié)面平直(zhí)度 。表面損(sǔn)傷層與再沈積​高(gāo)能離子轟擊(jī)產生晶格損(sǔn)傷 、非晶化或(huò)雜質注入;刻(kè)蝕產生的碎屑可(kě)能再沈積在側壁或(huò)底(dǐ)部 ,遮蔽結構細節 。熱(rè)...
  • SEM掃(sǎo)描(miáo)電鏡檢測入門指南:從樣品制備到(dào)圖像解讀

    2025-11-25 SEM掃(sǎo)描(miáo)電鏡檢測因(yīn)其高(gāo)分(fèn)辨(biàn)率、大景深和直(zhí)觀的微觀形貌呈現能力 ,成為(wéi)材料(liào) 、生物 、地(dì)質等領域關鍵(jiàn)的分(fèn)析工具 。但對(duì)於初學者而言 ,從送樣到(dào)獲(huò)取(qǔ)可(kě)靠(kào)圖像,每一步都(dōu)需嚴謹對(duì)待。本(běn)文簡要梳理SEM檢測全流程關鍵(jiàn)要點(diǎn) 。第一步:樣品制備——成敗在此一舉。導電性良好的金(jīn)屬樣品可(kě)直(zhí)接觀察;但非導電樣品(如陶瓷 、塑料(liào) 、生物組織)必須進行表面導電處理 ,常(cháng)用方法包括噴金(jīn)(Au/Pd) 、噴碳(tàn)或(huò)使用低真空模式。若忽略此步 ,將出現嚴重(zhòng)“荷電效應(yīng)”——圖像漂移 、條紋或(huò)亮度異常(cháng) 。此外,樣品需牢固固定於樣品台 ,避...
  • 掌握4點(diǎn)原則入手輕鬆(sōng)選(xuǎn)擇ZEISS場發射(shè)掃(sǎo)描(miáo)電鏡

    2025-10-24 ZEISS場發射(shè)掃(sǎo)描(miáo)電鏡是材料(liào)科學、納米技(jì)術 、半(bàn)導體分(fèn)析等領域觀測微納結構(如原子排(pái)列、納米顆粒形貌)的核心工具 。ZEISS場發射(shè)掃(sǎo)描(miáo)電鏡以高(gāo)分(fèn)辨(biàn)率、高(gāo)穩(wěn)定性和智能操作著稱 。但面對(duì)複雜的技(jì)術參數(shù),選(xuǎn)購時掌握以下4點(diǎn)原則 ,可(kě)輕鬆(sōng)匹配需求 。一、分(fèn)辨(biàn)率 :分(fèn)辨(biàn)率是衡量(liàng)電鏡成像清(qīng)晰度的關鍵(jiàn)參數(shù) ,直(zhí)接影(yǐng)響(xiǎng)能否觀察到(dào)納米級(jí)細節(如單(dān)個原子的排(pái)列、納米線的截(jié)面結構) 。ZEISS場發射(shè)電鏡的分(fèn)辨(biàn)率通常(cháng)分(fèn)為(wéi)“點(diǎn)分(fèn)辨(biàn)率”(理論較小可(kě)分(fèn)辨(biàn)兩(liǎng)點(diǎn)間距)和“實際成像分(fèn)辨(biàn)率”(實際樣品成像的清(qīng)晰度)。對(duì)於常(cháng)...
  • 提升國(guó)產環(huán)境箱測量(liàng)精度的幾大操作秘籍

    2025-09-22 國(guó)產環(huán)境箱是材料(liào)性能測試 、產品可(kě)靠(kào)性驗證(zhèng)的核心設備 ,其測量(liàng)精度(如溫度偏差≤±0.5℃ 、濕(shī)度偏差≤±2%RH)直(zhí)接影(yǐng)響(xiǎng)測試數(shù)據的可(kě)靠(kào)性 。對(duì)於專業用戶(hù)而言,掌握幾大操作秘籍,能有(yǒu)效提升環(huán)境箱的測量(liàng)精度 ,讓設備發揮更大價值 。一 、校准先行 :環(huán)境箱的傳感器(溫度 、濕(shī)度 、壓力等)會隨時間漂移或(huò)受環(huán)境影(yǐng)響(xiǎng)產生誤差。專家建議每3-6個月使用標(biāo)准計(jì)量(liàng)設備(如鉑電阻(zǔ)溫度計(jì) 、精密露點(diǎn)儀(yí))對(duì)箱內參數(shù)進行校准,校准點(diǎn)需覆(fù)蓋(gài)常(cháng)用測試範圍(如溫度-40℃至(zhì)85℃ 、濕(shī)度30%R...
  • LONGPEAK靜(jìng)電放(fàng)電發生器操作常(cháng)見誤區及(jí)避免方法

    2025-08-25 LONGPEAK靜(jìng)電放(fàng)電發生器是模擬靜(jìng)電放(fàng)電場景 、考(kǎo)核電子電氣產品抗(kàng)靜(jìng)電性能的關鍵(jiàn)設備 ,廣泛用於家電、汽車電子、通信設備等領域的EMC測試 。操作中(zhōng)若存(cún)在誤區 ,易導致測試數(shù)據失真 、設備損(sǔn)壞 ,甚至(zhì)引發安全隱患 。以下梳理4類常(cháng)見誤區及(jí)對(duì)應(yīng)避免方法 。​一 、誤區一 :忽視放(fàng)電槍校准 ,直(zhí)接開展(zhǎn)測試​部分(fèn)用戶(hù)認為(wéi)“新設備無需校准”,或(huò)長期不校准放(fàng)電槍 ,直(zhí)接用其進行測試 。LONGPEAK靜(jìng)電放(fàng)電發生器的放(fàng)電槍電極易因(yīn)磨損(sǔn) 、污染導致放(fàng)電電流偏差,若不校准 ,可(kě)能將合格產品誤判為(wéi)不合格 ,或(huò)遺漏真實抗(kàng)...
  • 掃(sǎo)描(miáo)電鏡測試數(shù)據的定量(liàng)分(fèn)析及(jí)其在科研中(zhōng)的意義

    2025-07-28 掃(sǎo)描(miáo)電鏡測試數(shù)據蘊含著豐富的微觀結構信息 ,對(duì)其進行定量(liàng)分(fèn)析在科研領域有(yǒu)著至(zhì)關重(zhòng)要的意義 。在定量(liàng)分(fèn)析方面,首(shǒu)先是對(duì)圖像中(zhōng)特徵尺(chǐ)寸的測量(liàng)。通過專業的圖像分(fèn)析軟件,可(kě)以精准地(dì)量(liàng)取(qǔ)材料(liào)微觀結構的粒徑大小、孔隙直(zhí)徑等關鍵(jiàn)尺(chǐ)寸參數(shù)。例如在納米材料(liào)研究中(zhōng) ,準確知曉納米顆粒的直(zhí)徑分(fèn)布(bù)範圍,能為(wéi)評估其性能及(jí)進一步改進制備工藝提供依據 。同時 ,對(duì)於晶界、相(xiàng)界等界面的距離測量(liàng)也很重(zhòng)要 ,有(yǒu)助於瞭解材料(liào)的結晶特性以及(jí)不同相(xiàng)之間的相(xiàng)互作用情況。另外,對(duì)元(yuán)素成分(fèn)的定量(liàng)分(fèn)析也是重(zhòng)要一環(huán)。結合能譜儀(yí)等附件所獲(huò)取(qǔ)...
  • 半(bàn)導體閂鎖測試儀(yí)基本(běn)操作,新手不得不看

    2025-06-19 在半(bàn)導體器件製造(zào)與質量(liàng)檢測過程中(zhōng),閂鎖效應(yīng)(Latch-up)測試是一項至(zhì)關重(zhòng)要的可(kě)靠(kào)性評估項目。由於CMOS等工藝結構的固有(yǒu)特性 ,芯(xīn)片在受到(dào)特定電壓 、電流或(huò)輻射(shè)干擾時可(kě)能引發寄生雙(shuāng)極晶體管(guǎn)導通,導致器件損(sǔn)壞。為(wéi)預防此類風險 ,半(bàn)導體閂鎖測試儀(yí)被廣泛用於評估集成電路對(duì)閂鎖效應(yīng)的抗(kàng)擾能力 。掌握其基本(běn)操作流程,是確保測試結果準確、設備穩(wěn)定運行的前提。一、測試前準備1.確認測試樣品狀態檢查待測芯(xīn)片是否完好無損(sǔn) ,引腳無彎(wān)曲、氧化或(huò)短(duǎn)路現象。同時查閱芯(xīn)片規格書,明確其供電電壓範圍 、較大工...
  • EMKU環(huán)境測試箱基本(běn)操作 ,新手不得不看

    2025-05-19 EMKU環(huán)境測試箱是廣泛應(yīng)用於電子 、汽車、航空航天(tiān) 、通信 、材料(liào)等領域的關鍵(jiàn)設備 ,用於模擬高(gāo)溫 、低溫、濕(shī)熱(rè)、循環(huán)溫濕(shī)度等多種環(huán)境條件 ,以檢測產品在不同環(huán)境下的性能穩(wěn)定性與可(kě)靠(kào)性 。對(duì)於初次接觸該設備的新手來說 ,掌握其基本(běn)操作流程和注意事項 ,不僅能提升測試效率 ,還能有(yǒu)效延長設備使用壽命,避免誤操作帶來的安全隱患 。一、開機前的準備事項在使用EMKU環(huán)境測試箱之前,必須做好以下準備工作:檢查電源連接 :確認供電電壓是否符合設備要求(通常(cháng)為(wéi)220V或(huò)380V),並確保接地(dì)良好 ;查看制冷系統(tǒng)...
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