日本電子JEOL肖特基場發射掃描電鏡IT800產品(pǐn)介紹(shào) ：

一(yī) 、日本電子JEOL肖特基場發射掃描電鏡IT800高分辨率(lǜ)成像能力

JSM-IT800採用(yòng)浸沒式肖特基Plus場發射電子槍，結合低像差聚(jù)光透鏡和Neo Engine電子光學控(kòng)制系統，實現了納米級分辨率(lǜ)。其二次電子圖像分辨率(lǜ)在15kV加速電壓下(xià)可達0.5nm，即(jí)使在1kV低電壓下(xià)仍保持0.7nm的高分辨率(lǜ)。這一(yī)特性(xìng)使其在觀察納米材料(liào)、半導(dǎo)體器件等微(wēi)觀結構時具有顯著優勢 ，例如(rú)可清(qīng)晰顯示(shì)小於10nm的催化(huà)劑(jì)顆粒分布 。

二、靈活模塊化(huà)設計

多種物鏡選擇：提供五種物鏡模塊 ，包(bāo)括通(tōng)用(yòng)型(xíng)混合透鏡（HL） 、高分辨率(lǜ)超(chāo)級混合透鏡（SHL/SHLs）以及專(zhuān)為(wéi)半導(dǎo)體設計的半浸沒式物鏡（i/is），滿足(zú)從磁(cí)性(xìng)材料(liào)到絕緣體的多樣化(huà)分析需求 。

可擴展探測器系統：配備新(xīn)型(xíng)閃爍體背散(sàn)射探測器（SBED）和多功能背散(sàn)射探測器（VBED），SBED在低電壓下(xià)仍能捕捉清(qīng)晰的成分對比圖像，而VBED支持3D形貌與成分信息的同步獲(huò)取 ，適用(yòng)於複雜樣品(pǐn)的多維度分析 。

三 、智能化(huà)操作與高效分析

集成化(huà)控(kòng)制平(píng)台 ：通(tōng)過SEM Center圖形界面無(wú)縫整合能量色散(sàn)X射線(sī)譜儀（EDS） ，實現實時成分分析與圖像顯示(shì)的無(wú)縫切換 ，提升分析效率(lǜ)。

AI輔助功能 ：引入LIVE-AI濾(lǜ)鏡優化(huà)實時圖像質量，支持快速聚(jù)焦和像散(sàn)調整；可選軟(ruǎn)件如(rú)Smile Navi為(wéi)新(xīn)手提供操作導(dǎo)航，降低使用(yòng)門檻 。

自動(dòng)化(huà)調節：具備自動(dòng)合軸、聚(jù)焦 、消像散(sàn)等功能
，結合五軸馬達驅動(dòng)樣品(pǐn)台（支持360°旋轉和傾斜），簡化(huà)複雜操作流程(chéng)。

四、廣泛適用(yòng)性(xìng)與工(gōng)業兼容性(xìng)

JSM-IT800在納米技術、半導(dǎo)體、材料(liào)科(kē)學、生物醫學等領域表(biǎo)現zhuoyue 。例如(rú)，其超(chāo)級混合透鏡（SHL）可高效分析磁(cí)性(xìng)材料(liào) ，無(wú)需切換模式；半浸沒式物鏡（i/is）則(zé)擅長半導(dǎo)體器件的橫截面故(gù)障分析。此外，設備支持大束(shù)流下(xià)的高分辨成像（如(rú)100nA@5kV） ，結合高速元素面分析和EBSD（電子背散(sàn)射衍射）功能，滿足(zú)工(gōng)業質檢的快速檢測需求。