日本(běn)電(diàn)子(zǐ)JEOL場發射透射電(diàn)鏡F200詳細說明(míng)：

日本(běn)電(diàn)子(zǐ)JEOL場發射透射電(diàn)鏡F200JEM-F200的外(wài)觀和操作(zuò)模式(shì)基於(yú)“智(zhì)能(néng)化”的理(lǐ)念進行了(le)全新的設(shè)計 。全新的人機界面使得(dé)用戶可以專注於(yú)電(diàn)鏡觀察和分析(xī)工作(zuò)。得(dé)益於(yú)日本(běn)電(diàn)子(zǐ)在電(diàn)子(zǐ)光(guāng)學領域多年的積累 ，新設(shè)備採用了(le)球差電(diàn)鏡的高穩定度的設(shè)計理(lǐ)念 ，該設(shè)備的機械穩定度和電(diàn)氣(qì)穩定度得(dé)以大(dà)大(dà)改(gǎi)善，從而可以保證更加出色的性能(néng)。

JEM-F200 配置肖特基場發射電(diàn)子(zǐ)槍，或者(zhě)冷場發射電(diàn)子(zǐ)槍*，高亮度和高穩定性的場發射電(diàn)子(zǐ)槍可以極大(dà)提高觀察和分析(xī)效率 。

對於(yú)冷場電(diàn)子(zǐ)槍，可以獲(huò)得(dé)更高亮度和更小能(néng)量發散度的電(diàn)子(zǐ)源(yuán) ，亮度高於(yú)8x108A/cm2·sr ，能(néng)量發散度可以低至0.3eV ，在圖像質量和分析(xī)效果上更勝yichou，更適合(hé)行高能(néng)量分辨(biàn)率的EELS分析(xī)，可以對樣品進行精細的化學結合(hé)態分析(xī) 。

JEM-F200上引入了(le)全新的四級(jí)聚光(guāng)鏡設(shè)計，可以滿(mǎn)足日益增加的各(gè)種(zhǒng)應用 。在這個全新系統(tǒng)的支(zhī)持下，前(qián)兩級(jí)聚光(guāng)鏡可以控制束斑尺寸和束流強(qiáng)度，其形成(chéng)的電(diàn)子(zǐ)東交叉點可以固定在特定的位置 ，然後通(tōng)過後兩級(jí)聚光(guāng)鏡實現照明(míng)區域和匯聚角(jiǎo)度的控制 。除此外(wài) ，在TEM模式(shì)成(chéng)像中(zhōng)非常重要的平行光(guāng)照明(míng)模式(shì)可以像傳統(tǒng)電(diàn)鏡一樣輕(qīng)松(sōng)實現 。該系統(tǒng)的使用可以輕(qīng)松(sōng)得(dé)到高質量的明(míng)場和暗場圖像。